ИФВЭ 2008 - 7
	А.В.Ларионов, Е.Н.Ломакин, В.С.Селезнев, А.Н.Сытин, Ю.С.Ходырев
	ЧИСЛЕННОЕ МОДЕЛИРОВАНИЕ ПРОЦЕССОВ ДИФФУЗИИ ВОДОРОДА ПРИ ОБЕЗГАЖИВАНИИ ВТОРИЧНО-ЭМИССИОННОГО МОНИТОРА
	Протвино, 2008. – 19 с., 14 рис., 3 табл., библиогр., 12.

Система контроля потери пучка на LHC в ЦЕРНе включает группу специальных вторично-эмиссионных мониторов (SEM), предназначенных для измерения фоновой радиации с очень высокими уровнями. Для надежности работы таких мониторов одним из основных требований к их конструкции является наличие вакуума не хуже 10^-7 атм в течение 20 лет при отсутствии внешней откачки. С этой целью, в частности, осуществлялось обезгаживание SEM на вакуумных стендах в ЦЕРНе и ИФВЭ.
В настоящей работе представлены результаты численного моделирования процессов диффузии H₂ в стенке вакуумной камеры SEM для различных технологических стадий обезгаживания и эксплуатационных условий. Получены зависимости от времени для всех параметров диффузии и потока газовыделения с поверхности стенки камеры в соответствии с вакуумно-температурными режимами обезгаживания, отсечения SEM и эксплуатации. Проанализирована как активация находящегося в камере SEM геттера st707 при обезгаживании на стенде ИФВЭ, так и эффективность откачки геттера после отсечения SEM. Эти расчеты позволили определить оптимальную температуру и давление для отсечения. Эти параметры соответственно равны 473±20^oK и (2-4) · 10^-13атм. Показано также, что геттер может гарантировать выполнение основного требования к вакууму по содержанию H₂ в камере в течение 20 лет.

	ZIPped PostScript			PDF

Список препринтов 2008

Команда поддержки