Эмблема ИФВЭ
ИФВЭ 2013 - 24
А.П.Воробьёв, С.Н.Головня, С.А.Горохов, И.С.Лобанов, Е.В.Лобанова, С.Ю.Молодцова (ИФВЭ, Протвино, Россия), Д.Е.Карманов, М.М.Меркин (НИИЯФ МГУ, Москва, Россия)
Система контроля качества изготовления полупроводниковых микрополосковых детекторов в ГНЦ ИФВЭ
Протвино, 2013. – 14 с., 11 рис., библиогр.: 5.


В ГНЦ ИФВЭ создана система контроля качества изготовления полупроводниковых детекторов, используемых для оснащения экспериментальных установок полупроводниковыми трековыми детекторами. На примере тестирования полупроводниковых детекторов, изготовленных для модернизации установки СВД, описан набор используемых процедур контроля качества детекторов. Представлены результаты тестирования группы детекторов, подготовленных для установки СВД.


ZIPped PostScript PDF

Список препринтов 2013 Команда поддержки