ИФВЭ 97 - 23
	О.В.Матвеева, С.М.Пестерев, Л.М.Севрюкова, Ю.С.Шаповалов
	Особенности конструкции и возможности стенда измерения параметров вторичной эмиссии
	Протвино, 1997.- 5 с., 4 рис., библиогр.:11.

С целью изучения влияния различных технологических факторов и вакуумных условий на вторичную эмиссию сверхпроводящих материалов разработан стенд измерения параметров вторичной эмиссии. В состав стенда входят рабочая и шлюзовая камеры, которые разделены затвором оригинальной конструкции. Электронная система стенда обеспечивает сканирование рабочей поверхности пучком заряженных частиц для определения примесного состава в местах повышенной эмиссии. Для этой цели используется 4--сточный квазисферический энергоанализатор Оже--электронов.

	ZIPped PostScript			PDF

Список препринтов 1997

Команда поддержки